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霍爾遷移率測試儀主要利用微波測試原理,非接觸式測量射頻HEMT結構半導體材料的方阻、遷移率及載流子濃度。可實現單點測試,亦可以實現面掃描的測試功能,具有快速,無損,準確等優勢,可用于材料研發及工藝的監...
渦流法?電阻率方阻是一種利用電磁感應原理進行檢測的方法。當載有交變電流的試驗線圈靠近導體工件時,會產生交變磁場,進而在工件中感生出密閉的環狀電流,即渦流。渦流的大小、相位及流動形式受到工件性質(如電導...
設備主要利用渦電流測試原理,非接觸測試半導體材料,石墨烯,透明導電膜,碳納米管,金屬等材料的方阻(電阻率)。可實現單點測試,亦可以實現面掃描的測試功能,可用于材料研發及工藝的監測及質量控制
PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產力的一個因素,因為它關系到每個硅塊所生產出的硅片數量。超薄的硅片給線鋸技術提出了額外的挑戰,因為其生產過程要困難得多。除了硅片的機械脆性以外,如果...
我司主營:晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,遷移率少子壽命測試儀。
渦流法電阻率測試儀的樣品尺寸:2“-8“或者16mm×16mm的方形樣品;遷移率測量范圍:100-20000(cm2/v.sec);方塊電阻測量范圍:100-3000(ohm/sq);載流子...
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產和品質監控,提供一整套完整測試和解決方案。
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產和品質監控,提供一整套完整測試和解決方案。
主營產品:晶圓方阻測試儀、晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,測試硅片,碳化硅、科研大學提供服務。